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CRAIC Technologies™ ist spezialisiert auf die Mikroanalyse im UV, VIS und NIR Bereich. Craic baut Instrumente, um Spektren und Bilder von Probenmerkmalen mit Größen von einigen hundert Mikrometer bis in den sub-Mikrometer Bereich aufzunehmen. Die Produktpalette von CRAIC Technologies umfasst unter anderem:

  • UV- und NIR-Mikroskope
  • UV-VIS-NIR-Mikrospektrophotometer
  • Instrumente und Software zur Messung von Dünnschichtdicken
  • Kolorimetrie im mikroskopischen Maßstab
  • Raman-Mikrospektrometer

 


 20/30 PV Mikrospektrometer

2030PV

 

Das innovative 20/30 PV ™ Mikrospektrophotometer ist das neueste und leistungsstärkste Instrument von CRAIC Technologies und damit das leistungsfähigste Instrument auf dem Gebiet der UV-VIS-NIR-Mikrospektroskopie überhaupt.

Das 20/30 PV ™ Mikrospektrophotometer ermöglicht die Messung von Transmissions, Absorptions-, Reflektions-, Emissions- und Fluoreszenzspektren in UV-VIS-NIR von Probenbereichen die kleiner als ein Mikron sind. Selbst die Dicke von Dünnfilmen und Farbräumen kann bestimmt werden. Und während die Microspectra™ aufgenommmen werden, kann die Probe mit hochauflösender digitaler Bildgebung im tiefen UV, in Farbe, oder im nahen Infrarot betrachtet werden. Einfache Bedienungseigenschaften ergänzen zudem die Leistung des Systems und beinhalten alles von Verbesserungen in der Ergonomie bis hin zur Automatisierung.

Merkmale:

  • Spektralbereich: 200 bis 2500 nm
  • Farbmessung von mikroskopischen Proben
  • Brechungsindexmessungen mit dem rIQ ™ -Paket
  • Manueller oder vollautomatischer Betrieb
  • Integrierte TE-gekühlte Array-Detektoren für niedriges Rauschen und Langzeitstabilität (optional)
  • Inklusive Lambdafire™-Software für die Spektroskopie, die Bildgebung und die Analyse. Lambdafire™ ermöglicht zudem Touchscreen-Steuerung
  • Einfach zu bedienen und zu warten

Anwendungen: Transmissions-, Reflexions- and Fluoreszenzmikrospektroskopie und -bildgebung, Raman-Mikrospektroskopie, Polarisationsmikrospektroskopie und -bildgebung, Dünnschichtdickenmessung

Datenblatt: 20/30 PV Mikrospektrometer

 


 

Kontakt

TobiasHeider

Tobias Heider
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Tel: +49-(0)89-818 90 781
Mobil: +49-(0)151-227 95 965

 

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