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Zwischen einer Nadelspitze und der leitenden Materialprobe wird eine Spannung von ca. 1 Volt angelegt. Ein Piezostellelement kann den Abstand zur Oberfläche nanometergenau einstellen (Z Richtung). Nähern sich Spitze und Materialoberfläche im Nanometerbereich so entsteht eine Tunnelstrom zwischen den beiden. Schaltet man nun einen Regelkreis dazu, so regelt er Z in der Weise nach, dass der Tunnelstrom zwischen Sonde und Oberfläche konstant bleibt. Anschliessend wird die Materialprobe in X und Y Richtung Punkt für Punkt abgerastert wobei Z stets so nachgeführt wird dass der Tunnelstrom immer konstant bleibt. Aus Z als Funktion von X und Y entsteht die elektronische Topografie der Oberfläche.
Dank der verwendeten feinen Messspitze und des exponentiell abklingenden Tunnelstroms kann man sogar einzelne Atome auf der Oberfläche visualisieren.
Sowohl die Materialprobe als auch die Spitze sind ganz einfach zu wechseln. Die Spitzen selbst werden mit einfachsten Mitteln selbst hergestellt.
Das System arbeitet mit Tunnelströmen ab 500 fA. Darum können auch Messungen auf hochresistiven selbstorganisierenden Monoschichten gemacht werden
Das pA-STM Rastertunnelmikroskop von APE-Research ermöglicht so Messungen von höchster Qualität mit einem preisgünstigen Instrument. Dank dem cleveren Design von Mechanik und Elektronik kommen Sie ohne Umwege direkt ans Ziel.
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